Pintura mural del sitio Pampa La Cruz y su conservación: un estudio por difracción de rayos-X y refinamiento estructural por el método de Rietveld

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Date

2022

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Universidad Nacional Mayor de San Marcos

Abstract

Busca determinar la presencia de posibles agentes degradantes en estos murales. Para ello se analizó la composición mineralógica de los pigmentos y enlucidos asociados de uno de los murales (Mural 1), a partir de muestreos periódicos durante el tiempo de exposición del mural al medio ambiente por 6 meses. En el presente trabajo se presenta resultados del estudio del pigmento blanco y su enlucido asociado, aplicando la técnica de difracción de rayos X según el método del polvo. El análisis de los resultados fue realizado mediante el método de Rietveld, lo cual permitió confirmar la identificación de fases previamente realizada, así como determinar el porcentaje en peso de cada fase. En el pigmento blanco fueron identificadas fases de cuarzo y arcillas (calcita, albita, andesina, moscovita, ortoclasa, andalucita, clorita, hornblenda, caolinita y yeso); también fue identificada fase de halita (sal). En los enlucidos fueron identificadas fases de illita, yeso, cuarzo, calcita, andesina, albita, moscovita, ortoclasa, andalucita, clorita, halita, hornblenda y caolinita. La coloración blanca de los pigmentos investigados se debería principalmente a la presencia de calcita y yeso en las muestras. La presencia de halita tanto en pigmentos como en enlucidos, en mayor porcentaje en los primeros que en los segundos, se debería a que la sal actúa como un factor externo de contaminación, debido a la ubicación del sitio arqueológico muy próximo al mar. El corto período de tiempo de muestreo no permite visualizar acumulación de halita en el pigmento; esto se debería a que este período de tiempo no resulta significativo estadísticamente.

Description

Keywords

Pigmentos, Arcilla, Difractometría de rayos X, Método de Rietveld

Citation

Asto, E. (2022). Pintura mural del sitio Pampa La Cruz y su conservación: un estudio por difracción de rayos-X y refinamiento estructural por el método de Rietveld. [Tesis de maestría, Universidad Nacional Mayor de San Marcos, Facultad de Ciencias Físicas, Unidad de Posgrado]. Repositorio institucional Cybertesis UNMSM.